简述

　　寿命试验（MTBF）是科学研究商品使用寿命特点的方式 ，这类方式 可在试验室仿真模拟各种各样应用标准来开展。寿命试验是可靠性测试中重要基本上的新项目之一，它是将商品放到特殊的实验标准下调查其无效（毁坏）随時间变化趋势。根据寿命试验，能够掌握商品的使用寿命特点、无效规律性、失效率、人均寿命及其在寿命试验全过程中很有可能发生的各种各样失效模式。如融合失灵说明，可进一步搞清造成商品无效的关键无效原理，做为结构设计优化、稳定性预测分析、改善新产品品质和明确有效的挑选、常规（大批量确保）实验标准等的根据。假如为了更好地减少实验時间可在没有更改无效原理的标准下要增加地应力的方式 开展实验，这就是加快寿命试验。根据寿命试验能够对商品的稳定性水准开展点评，并根据品质意见反馈来提升 新品稳定性水准。 在适合工作中标准下元器件使用期限期限内的设备故障率很低。电子元件的使用寿命，与操作温度是有密切相关的。以笔记本主板上常见的也常出常见故障的电解电容器为例子，其使用寿命会遭受溫度的危害。因而，应尽量使电力电容器在较低的溫度下工作中，假如电力电容器的具体操作温度超出了其规格型号范畴，不但其使用寿命会减少，并且电力电容器会遭受比较严重的毁损（比如锂电池电解液泄露）。寿命试验（MTBF）方式 分成按时截尾实验，线段截尾实验，估计方式 为：人均寿命的点预测值、一侧相信低限可能、双侧区间估计。

 高温工作寿命试验 高溫寿命试验为运用溫度及工作电压加快的方式 ,藉短期内的试验来评定IC商品的长期实际操作使用寿命.一般普遍的使用寿命实验方法有BI(Burn-in) / EFR(Early Failure Rate) / HTOL(High Temperature Operating Life) / TDDB(Time dependent Dielectric Breakdown)，针对不一样的产品类型也是有相对性应的测试标准及标准，如HTGB(High Temperature Gate Bias) / HTRG(High Temperature Reverse Bias) / BLT(Bias Life Test) / Intermittent Operation Life等。 超低温工作中寿命试验 超低温实际操作寿命试验为运用超低温及工作电压加快的方式 ，评定该部件于超低温自然环境实际操作下的使用寿命。 溫度工作中使用寿命检验工作能力 GJB899-2009